高溫卷袋凹印設(shè)備斷裂性劣化的類型：

 

塑性斷裂。高溫卷袋凹印設(shè)備塑性斷裂是由過載斷裂和撞擊斷裂所引起的，是設(shè)備機(jī)件常見的一種劣化表現(xiàn)形式。機(jī)件在斷裂前，可能先出現(xiàn)塑性的變形，然后產(chǎn)生斷裂，這種斷裂稱為塑性斷裂。

 

疲勞斷裂。由于熱疲勞（如高溫疲勞等）、機(jī)械疲勞（由分為彎曲疲勞、扭轉(zhuǎn)疲勞、接觸疲勞、復(fù)合載荷疲勞等）以及其他復(fù)雜環(huán)境下的疲勞等各種綜合因素共同作用所引起的斷裂。

 

應(yīng)力腐蝕斷裂。一個有熱應(yīng)力、焊接應(yīng)力、殘余應(yīng)力或其他外加拉應(yīng)力的設(shè)備，如果同時存在與金屬材料相匹配的腐蝕介質(zhì)，則將使材料產(chǎn)生裂紋，并以顯著速度發(fā)展的一種開裂，都是應(yīng)力腐蝕斷裂。又如所謂氫脆和堿脆現(xiàn)象造成的破壞，也是應(yīng)力腐蝕斷裂。

 

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